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    温度速变试验箱

    温度速变试验箱
    温度速变试验箱
    温度速变试验箱主要由控制面板、配电板、保温层、风机、加热器、冷冻柜等组成。主要规格可分为6个标准规格和10个不同条件规格。控制器可以通过局域网接口与计算机相连。用户可以在计算机屏幕上设计程序,采集测试数据并记录,执行呼叫程序,远程控制机开关,USB等功能。箱体采用左右水平循环风道设计,均匀度低至0.5℃,高于进口指标。当出现异常时,控制器界面自动显示故障状态,并切断电源开关,提供故障处理方法。

    厂商性质:生产厂家

    产品型号:

    更新日期:2022-11-22

    访问数量:2919

    联系方式

    400-628-2786

    产品介绍

        温度速变试验箱简介:

        本试验箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值。

    型号  CJ601S2 CJ603S2 CJ605S2
    性 能 参 数  
    高温室
    温度暴露范围 60~+200℃
    预热温度上限 200℃
    升温时间 R.T.→+200℃约40min
     
    低温室
    温度暴露范围 0~-75℃
    预冷温度下限 -75℃
    降温时间 R.T.→-70℃约60min
     
    提篮
    温度范围 -65~150℃
    温度波动度 ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)
    温度偏差 ≤±2℃(-65℃~ 150℃)
    转换时间 ≤5S
    温度回复时间 ≤5min
    温 度 回 复 条 件 CJ601S2 条件一 高温暴露 150℃低温暴露-65℃,暴露时间30min,样品重量5Kg铝
    条件二 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量10Kg铝
    CJ603S2 条件一 高温暴露 150℃低温暴露-65℃暴露时间30min,样品重量10Kg铝
    条件二 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量30Kg铝
    CJ605S2 条件一 高温暴露 150℃,低温暴露-65℃暴露时间30min样品重量15Kg铝
    条件二 高温暴露120℃,低温暴露-40℃,暴露时间30min,样品重量30Kg铝
     
    结 构
    外壳 冷轧钢板表面喷塑
    内胆 不锈钢板
    隔热材料 聚氨酯发泡 超细玻璃棉
    制 冷 制冷方式 风冷 水冷
    制冷机 进口压缩机
    温度传感器 铠装铂电阻
    控制器 西门子PLC模块 7英寸彩色液晶触摸控制屏 。
    数据存储与功能接口 本机SD数据卡RS485接口、USB接口
     
    提篮尺寸(mm)
    D 300 500 600
    W 460 610 660
    H 350 400 450
     
    外部尺寸(mm)
    D 2250 2720 2920
    W* 1200 1050 1100
    H 1950 1950 2150
    装机功率(KW) 19.7KVA 32KVA 36KVA
    电源 AC380V 50Hz三相四线制 接地线
    标准配置 产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、打印纸5只、搁板2层、色带
    1只、带脚轮。
    满足标准 GJB 150.3、GJB 150.4、GJB150.5、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2

     


     

        温度速变试验箱主要由控制面板、配电板、保温层、风机、加热器、冷冻柜等组成。主要规格可分为6个标准规格和10个不同条件规格。控制器可以通过局域网接口与计算机相连。用户可以在计算机屏幕上设计程序,采集测试数据并记录,执行呼叫程序,远程控制机开关,USB等功能。箱体采用左右水平循环风道设计,均匀度低至0.5℃,高于进口指标。当出现异常时,控制器界面自动显示故障状态,并切断电源开关,提供故障处理方法。
        在试验中,分为定值和程式两种运行模式,其中定值是对针对试验的要求,只对产品做固定温度点和湿度点测试,程式运行模式也叫交变试验,或可程式试验,其原理是在控制仪表中集成了PLC模块,可编程控制器是一种数字运算电子系统,为在工业环境下运用而设计。设备主要用于考察各种工业制品热机械性能引起的失效,当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。
        温度速变试验箱温度变化率一般在5~15℃/分之间,实现以较快的速度再现所测样件应用环境条件,一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。试验箱在设计强度下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失。

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